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更新時(shí)間:2024-04-19
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廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
生產(chǎn)地址:上海
重量 | -kg | 測(cè)量范圍 | 刻度的能量范圍45keV到7MeV |
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電源電壓 | 5V | 執(zhí)行質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn) | 國(guó)標(biāo) |
產(chǎn)地 | 國(guó)產(chǎn) | 加工定制 | 否 |
NaI閃爍探測(cè)器無源效率刻度軟件
一、NaI閃爍探測(cè)器無源效率刻度軟件產(chǎn)品簡(jiǎn)介
NaI閃爍探測(cè)器無源效率刻度軟件刻度方法主要有兩種,一是相對(duì)測(cè)量方法,二是無源效率刻度方法。在退役核設(shè)施放射性測(cè)量、放射性工作場(chǎng)所測(cè)量、核事故應(yīng)急中污染物放射性快速測(cè)量、人體器官放射性測(cè)量、生物樣品放射性快速測(cè)量、放射性廢物非破壞性測(cè)量等領(lǐng)域,很難采用借助標(biāo)準(zhǔn)源的相對(duì)測(cè)量方法獲得效率刻度因子。
無源效率刻度軟件NaI-Calibration是用于NaI γ射線探測(cè)器無源效率刻度的新產(chǎn)品,它采用數(shù)值方法計(jì)算γ光子的輸運(yùn)過程,在此基礎(chǔ)上得到效率刻度因子,幾何和材料建模能力強(qiáng)大,計(jì)算精度高,速度快,界面簡(jiǎn)單,使用方便。由于是采用理論計(jì)算方法,因此,對(duì)于復(fù)雜幾何形狀和成分的放射源都快速地獲得效率刻度曲線。NaI-Calibration克服了相對(duì)測(cè)量方法的缺點(diǎn),同時(shí)避免了標(biāo)準(zhǔn)源的使用和管理,地拓展了NaI探測(cè)器的適用范圍,提高了NaI探測(cè)器的定量分析能力。
NaI-Calibration是在解決兩個(gè)關(guān)鍵技術(shù)的基礎(chǔ)上研制成功的NaI無源效率刻度軟件,一是光子在探測(cè)器中的能量沉積計(jì)算,二是探測(cè)器中產(chǎn)光效率和光收集效率的表征方法。光子在探測(cè)器中的能量沉積部分具備一般的無源效率刻度軟件的優(yōu)點(diǎn),即可視化建模功能,對(duì)于任意組分材料和任意屏蔽物,精密化計(jì)算能量沉積功能;探測(cè)器表征方面通過實(shí)驗(yàn)測(cè)量得到點(diǎn)源在不同位置的能量沉積,然后反演出探測(cè)器的產(chǎn)光效率和收集效率隨能量變化曲線。NaI-Calibration經(jīng)過了不同形狀、不同活度的體源效率測(cè)量的考核。
二、NaI閃爍探測(cè)器無源效率刻度軟件性能
· 采用功能強(qiáng)大的CSG建模,實(shí)現(xiàn)對(duì)任意形狀的體源的三維可視化快速建模;
· 放射源到探測(cè)器的距離為0到無窮遠(yuǎn);
· 刻度的能量范圍45keV到7MeV;
· 積分控制精度人為調(diào)節(jié),軟件默認(rèn)值為3%;
· 效率刻度曲線計(jì)算時(shí)間:對(duì)于形狀對(duì)稱的體源(如環(huán)境樣品源),計(jì)算時(shí)間小于20秒;
· 對(duì)于形狀非對(duì)稱的體源,計(jì)算時(shí)間一般少于10分鐘;
· 軟件輸出為*.TXT格式文件;
· 中、英文界面。
三、本公司的服務(wù)
定制軟件界面;
定制報(bào)告格式;
免費(fèi)培訓(xùn)和技術(shù)咨詢。